Thin film cracking and ratcheting caused by temperature cycling: Fid-Bau Portal

Thin film cracking and ratcheting caused by temperature cycling

Huang, M. / Suo, Z. / Ma, Q. / Fujimoto, H.

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Titel:

Thin film cracking and ratcheting caused by temperature cycling

Beteiligte:

Huang, M. (Autor:in) / Suo, Z. (Autor:in) / Ma, Q. (Autor:in) / Fujimoto, H. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH- ; 15 ; 1239-1242

Erscheinungsdatum:

01.01.2000

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0884-2914

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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