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Two-dimensional finite element simulation of grain boundary migration for embedded symmetric grains

Kim, B. N.

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Titel:

Two-dimensional finite element simulation of grain boundary migration for embedded symmetric grains

Beteiligte:

Kim, B. N. (Autor:in)

Erschienen in:

COMPUTATIONAL MATERIALS SCIENCE ; 18 ; 177-184

Erscheinungsdatum:

01.01.2000

Format / Umfang:

8 pages

ISSN:

0927-0256

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.1 / 510

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