Structural and electrical characteristics of (Pb1-xLax)(Zr0.5Ti0.5)O3 thin film capacitors: Fid-Bau Portal

Structural and electrical characteristics of (Pb1-xLax)(Zr0.5Ti0.5)O3 thin film capacitors

Mah, S. B. / Jang, N. W. / Park, J. H. / Paik, D. S. / Park, C. Y.

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Titel:

Structural and electrical characteristics of (Pb1-xLax)(Zr0.5Ti0.5)O3 thin film capacitors

Beteiligte:

Mah, S. B. (Autor:in) / Jang, N. W. (Autor:in) / Park, J. H. (Autor:in) / Paik, D. S. (Autor:in) / Park, C. Y. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS RESEARCH BULLETIN ; 35 ; 1113-1122

Erscheinungsdatum:

01.01.2000

Format / Umfang:

10 pages

ISSN:

0025-5408

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11 / 620

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