Crystallinity of PTCDA films on silicon derived via optical spectroscopic measurements: Fid-Bau Portal

Crystallinity of PTCDA films on silicon derived via optical spectroscopic measurements

Salvan, G. / Himcinschi, C. / Kobitski, A. Y. / Friedrich, M. / Wagner, H. P. / Kampen, T. U. / Zahn, D. R.

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Titel:

Crystallinity of PTCDA films on silicon derived via optical spectroscopic measurements

Beteiligte:

Salvan, G. (Autor:in) / Himcinschi, C. (Autor:in) / Kobitski, A. Y. (Autor:in) / Friedrich, M. (Autor:in) / Wagner, H. P. (Autor:in) / Kampen, T. U. (Autor:in) / Zahn, D. R. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 175-176 ; 363-368

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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