Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik
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Ultra-thin epitaxial Al and Cu films on CaF2/Si(1 1 1)
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Shusterman, Y. V. (Autor:in) / Yakovlev, N. L. (Autor:in) / Schowalter, L. J. (Autor:in)
APPLIED SURFACE SCIENCE ; 175-176 ; 27-32
01.01.2001
6 pages
Aufsatz (Zeitschrift)
Englisch
DDC:
621.35
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