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Analytical TEM for the investigation of thin functional layers

Wetzig, K. / Thomas, J. / Bauer, H. D.

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Titel:

Analytical TEM for the investigation of thin functional layers

Beteiligte:

Wetzig, K. (Autor:in) / Thomas, J. (Autor:in) / Bauer, H. D. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 179 ; 144-150

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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