Electrical characterization of single-walled carbon nanotubes with Scanning Force Microscopy: Fid-Bau Portal

Electrical characterization of single-walled carbon nanotubes with Scanning Force Microscopy

de Pablo, P. J. / Martinez, M. T. / Colchero, J. / Gomez-Herrero, J. / Maser, W. K. / de Benito, A. M. / Munoz, E. / Baro, A. M.

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Titel:

Electrical characterization of single-walled carbon nanotubes with Scanning Force Microscopy

Beteiligte:

de Pablo, P. J. (Autor:in) / Martinez, M. T. (Autor:in) / Colchero, J. (Autor:in) / Gomez-Herrero, J. (Autor:in) / Maser, W. K. (Autor:in) / de Benito, A. M. (Autor:in) / Munoz, E. (Autor:in) / Baro, A. M. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -AMSTERDAM THEN LAUSANNE- C ; 15 ; 149-151

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

3 pages

ISSN:

0928-4931

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.1 / 660

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