X-Ray Line Profile Analysis of Nanodisperse Silicon Nitride Ceramics: Fid-Bau Portal

X-Ray Line Profile Analysis of Nanodisperse Silicon Nitride Ceramics

Gubicza, J. / Szepvolgyi, J. / Mohai, I. / Ungar, T.

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Titel:

X-Ray Line Profile Analysis of Nanodisperse Silicon Nitride Ceramics

Beteiligte:

Gubicza, J. (Autor:in) / Szepvolgyi, J. (Autor:in) / Mohai, I. (Autor:in) / Ungar, T. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 378/381 ; 729-734

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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