High quality SiC applications in radiation dosimetry: Fid-Bau Portal

High quality SiC applications in radiation dosimetry

Bruzzi, M. / Nava, F. / Pini, S. / Russo, S.

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Titel:

High quality SiC applications in radiation dosimetry

Beteiligte:

Bruzzi, M. (Autor:in) / Nava, F. (Autor:in) / Pini, S. (Autor:in) / Russo, S. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 184 ; 425-430

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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