Electrical characterization of self-assembled InAs/GaAs quantum dots by capacitance techniques: Fid-Bau Portal

Electrical characterization of self-assembled InAs/GaAs quantum dots by capacitance techniques

Gombia, E. / Mosca, R. / Frigeri, P. / Franchi, S. / Amighetti, S. / Ghezzi, C.

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Titel:

Electrical characterization of self-assembled InAs/GaAs quantum dots by capacitance techniques

Beteiligte:

Gombia, E. (Autor:in) / Mosca, R. (Autor:in) / Frigeri, P. (Autor:in) / Franchi, S. (Autor:in) / Amighetti, S. (Autor:in) / Ghezzi, C. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B -LAUSANNE- ; 91-92 ; 393 - 397

Erscheinungsdatum:

01.01.2002

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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