Effects of Interfacial Reactions on Electrical Properties of Ni Ohmic Contacts on n-Type 4H-SiC: Fid-Bau Portal

Effects of Interfacial Reactions on Electrical Properties of Ni Ohmic Contacts on n-Type 4H-SiC

Han, S. Y. / Kim, N.-K. / Kim, E.-D. / Lee, J.-L.

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Titel:

Effects of Interfacial Reactions on Electrical Properties of Ni Ohmic Contacts on n-Type 4H-SiC

Beteiligte:

Han, S. Y. (Autor:in) / Kim, N.-K. (Autor:in) / Kim, E.-D. (Autor:in) / Lee, J.-L. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 389/393 ; 897-900

Erscheinungsdatum:

01.01.2002

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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