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    Dokumentinformationen
    Titel:

    X-Ray Photoelectron Spectroscopy Studies of Post-Oxidation Process Effects on Oxide/SiC Interfaces

    Beteiligte:

    Hijikata, Y. (Autor:in) / Yaguchi, H. (Autor:in) / Yoshikawa, M. (Autor:in) / Yoshida, S. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 389/393 ; 1033-1036

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2002

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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