Photoreflectance Characterization of GaNAs/GaAs Multiple Quantum Well Structures: Fid-Bau Portal

Photoreflectance Characterization of GaNAs/GaAs Multiple Quantum Well Structures

Lu, C.-R. / Lee, J.-R. / Chen, Y. Y. / Lee, W.-I. / Lee, S.-C.

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Titel:

Photoreflectance Characterization of GaNAs/GaAs Multiple Quantum Well Structures

Beteiligte:

Lu, C.-R. (Autor:in) / Lee, J.-R. (Autor:in) / Chen, Y. Y. (Autor:in) / Lee, W.-I. (Autor:in) / Lee, S.-C. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 389/393 ; 1497-1500

Erscheinungsdatum:

01.01.2002

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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