Macro Stress Mapping on Thin Film Buckling: Fid-Bau Portal

Macro Stress Mapping on Thin Film Buckling

Goudeau, P. / Villain, P. / Renault, P.-O. / Tamura, N. / Celestre, R. S. / Padmore, H.

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Titel:

Macro Stress Mapping on Thin Film Buckling

Beteiligte:

Goudeau, P. (Autor:in) / Villain, P. (Autor:in) / Renault, P.-O. (Autor:in) / Tamura, N. (Autor:in) / Celestre, R. S. (Autor:in) / Padmore, H. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 404/407 ; 709-714

Erscheinungsdatum:

01.01.2002

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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