Electrical properties and microstructures of NiO-doped WO3 thick films: Fid-Bau Portal

Electrical properties and microstructures of NiO-doped WO3 thick films

Noh, W. / Park, B. S. / Hong, K. / Kim, J. / Kim, I. / Park, J.

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Titel:

Electrical properties and microstructures of NiO-doped WO3 thick films

Beteiligte:

Noh, W. (Autor:in) / Park, B. S. (Autor:in) / Hong, K. (Autor:in) / Kim, J. (Autor:in) / Kim, I. (Autor:in) / Park, J. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE LETTERS ; 21 ; 1271 - 1274

Erscheinungsdatum:

01.01.2002

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0261-8028

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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