Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik
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Synchrotron radiography and x-ray topography studies of hexagonal habitus SiC bulk crystals
Synchrotron radiography and x-ray topography studies of hexagonal habitus SiC bulk crystals
Synchrotron radiography and x-ray topography studies of hexagonal habitus SiC bulk crystals
Argunova, T. S. (Autor:in) / Gutkin, M. Y. (Autor:in) / Je, J. H. (Autor:in) / Kang, H. S. (Autor:in) / Hwu, Y. (Autor:in) / Tsai, W.-L. (Autor:in) / Margaritondo, G. (Autor:in)
JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH- ; 17 ; 2705-2711
01.01.2002
7 pages
Aufsatz (Zeitschrift)
Englisch
DDC:
620.11
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Synchrotron White Beam Topography Studies of 2H SiC Crystals
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