Microstructural Characterisation of gamma-TiAl Joints: Fid-Bau Portal

Microstructural Characterisation of gamma-TiAl Joints

Guedes, A. / Pinto, A. M. P. / Vieira, M. / Viana, F. / Ramos, A. S. / Vieira, M. T.

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Titel:

Microstructural Characterisation of gamma-TiAl Joints

Beteiligte:

Guedes, A. (Autor:in) / Pinto, A. M. P. (Autor:in) / Vieira, M. (Autor:in) / Viana, F. (Autor:in) / Ramos, A. S. (Autor:in) / Vieira, M. T. (Autor:in) / Vieira, T.

Erschienen in:

Proceedings of the 1^s^t International Materials Symposium, Coimbra, Portugal, April 9-11, 2001 ; 27-30

KEY ENGINEERING MATERIALS

Erscheinungsdatum:

01.01.2002

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

1013-9826

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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