Simulations of switching vibrating cantilever in atomic force microscopy: Fid-Bau Portal

Simulations of switching vibrating cantilever in atomic force microscopy

Balantekin, M. / Atalar, A.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Simulations of switching vibrating cantilever in atomic force microscopy

Balantekin, M. / Atalar, A.

Simulations of switching vibrating cantilever in atomic force microscopy

Balantekin, M. / Atalar, A.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

Simulations of switching vibrating cantilever in atomic force microscopy

Beteiligte:

Balantekin, M. (Autor:in) / Atalar, A. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 205 ; 86-96

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

11 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

Miyahara, Y. / Fujii, T. / Watanabe, S. et al. | British Library Online Contents | 1999

Atomic force microscopy cantilever simulation by finite element methods for quantitative atomic force acoustic microscopy measurements

Beltran, F. J. E. / Munoz-Saldana, J. / Torres-Torres, D. et al. | British Library Online Contents | 2006

CMOS Cantilever Sensor Systems : Atomic Force Microscopy and Gas Sensing Applications

Lange, D. | TIBKAT | 2002

Atomic Force Microscopy

Blanchard, C. R. / Campbell, J. B. | British Library Online Contents | 1995

Atomic Force Microscopy

West, P. / Starostina, N. | British Library Online Contents | 2004

Nach oben