Observation of ripple formation on O2+-irradiated GaN surfaces using atomic force microscopy: Fid-Bau Portal

Observation of ripple formation on O2+-irradiated GaN surfaces using atomic force microscopy

Kanazawa, M. / Takano, A. / Higashi, Y. / Suzuki, M. / Homma, Y.

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Titel:

Observation of ripple formation on O2+-irradiated GaN surfaces using atomic force microscopy

Beteiligte:

Kanazawa, M. (Autor:in) / Takano, A. (Autor:in) / Higashi, Y. (Autor:in) / Suzuki, M. (Autor:in) / Homma, Y. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 203-204 ; 152-155

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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