Characterization of methyl methacrylate oligomers using secondary ion mass spectrometry, APCI mass spectrometry and molecular orbital theory: Fid-Bau Portal

Characterization of methyl methacrylate oligomers using secondary ion mass spectrometry, APCI mass spectrometry and molecular orbital theory

Takeuchi, T. / Iwai, K. / Momoji, K. / Miyamoto, I. / Saiki, K. / Hashimoto, K.

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Titel:

Characterization of methyl methacrylate oligomers using secondary ion mass spectrometry, APCI mass spectrometry and molecular orbital theory

Beteiligte:

Takeuchi, T. (Autor:in) / Iwai, K. (Autor:in) / Momoji, K. (Autor:in) / Miyamoto, I. (Autor:in) / Saiki, K. (Autor:in) / Hashimoto, K. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 203-204 ; 605-608

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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