Microstructural characterization of thick YBa~2Cu~3O~7~-~d~e~l~t~a films on improved rolling-assisted biaxially textured substrates: Fid-Bau Portal

Microstructural characterization of thick YBa~2Cu~3O~7~-~d~e~l~t~a films on improved rolling-assisted biaxially textured substrates

Leonard, K. J. / Kang, S. / Goyal, A. / Yarborough, K. A. / Kroeger, D. M.

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Titel:

Microstructural characterization of thick YBa~2Cu~3O~7~-~d~e~l~t~a films on improved rolling-assisted biaxially textured substrates

Beteiligte:

Leonard, K. J. (Autor:in) / Kang, S. (Autor:in) / Goyal, A. (Autor:in) / Yarborough, K. A. (Autor:in) / Kroeger, D. M. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH THEN WARRENDALE- ; 18 ; 1723-1732

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

10 pages

ISSN:

0884-2914

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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