Atomic force microscopic imaging and wet etching of Bi2Ti2O7 thin films: Fid-Bau Portal

Atomic force microscopic imaging and wet etching of Bi2Ti2O7 thin films

Wang, Z. / Yang, C. H. / Sun, D. L. / Hu, J. F. / Wang, H. / Chen, H. C. / Fang, C. S.

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Titel:

Atomic force microscopic imaging and wet etching of Bi2Ti2O7 thin films

Beteiligte:

Wang, Z. (Autor:in) / Yang, C. H. (Autor:in) / Sun, D. L. (Autor:in) / Hu, J. F. (Autor:in) / Wang, H. (Autor:in) / Chen, H. C. (Autor:in) / Fang, C. S. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B -LAUSANNE- ; 102 ; 335-338

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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