Photoluminescence study of erbium doped SiO2 thin films containing Si nanocrystals: Fid-Bau Portal

Photoluminescence study of erbium doped SiO2 thin films containing Si nanocrystals

Kao, C. C. / Barthou, C. / Gallas, B. / Fisson, S. / Vuye, G. / Rivory, J.

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Titel:

Photoluminescence study of erbium doped SiO2 thin films containing Si nanocrystals

Beteiligte:

Kao, C. C. (Autor:in) / Barthou, C. (Autor:in) / Gallas, B. (Autor:in) / Fisson, S. (Autor:in) / Vuye, G. (Autor:in) / Rivory, J. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B -LAUSANNE- ; 105 ; 225-228

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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