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Implantation profiles for low energy electrons in metals: scaling properties

Chaoui, Z. / Bouarissa, N.

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Titel:

Implantation profiles for low energy electrons in metals: scaling properties

Beteiligte:

Chaoui, Z. (Autor:in) / Bouarissa, N. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 221 ; 114-119

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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