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    Titel:

    Study of the chemical and structural organization of SIPOS films at the nanometer scale by TEM-EELS and XPS

    Beteiligte:

    Schamm, S. (Autor:in) / Berjoan, R. (Autor:in) / Barathieu, P. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B -LAUSANNE- ; 107 ; 58-65

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2004

    Format / Umfang:

    8 pages

    ISSN:

    0921-5107

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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