Measurement of Critical Exponents of Nanostructured Gold Thin Films: Fid-Bau Portal

Measurement of Critical Exponents of Nanostructured Gold Thin Films

Melo, L. L. / Salvadori, M. C. / Cattani, M.

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Titel:

Measurement of Critical Exponents of Nanostructured Gold Thin Films

Beteiligte:

Melo, L. L. (Autor:in) / Salvadori, M. C. (Autor:in) / Cattani, M. (Autor:in)

Erschienen in:

SURFACE REVIEW AND LETTERS ; 10 ; 903-908

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0218-625X

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 530.417

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