Electrical behavior of periodically microstructured Sn/CuSn4 contact models under fretting conditions: Fid-Bau Portal

Electrical behavior of periodically microstructured Sn/CuSn4 contact models under fretting conditions

Daniel, C. / Mucklich, F.

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Titel:

Electrical behavior of periodically microstructured Sn/CuSn4 contact models under fretting conditions

Beteiligte:

Daniel, C. (Autor:in) / Mucklich, F. (Autor:in)

Erschienen in:

WEAR -LAUSANNE- ; 257 ; 266-270

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0043-1648

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11292

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