Effect of low level contamination on TiAl alloys studied by SIMS: Fid-Bau Portal

Effect of low level contamination on TiAl alloys studied by SIMS

Teodoro, O. M. N. D. / Barbosa, J. / Naia, M. D. / Moutinho, A. M. C.

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Titel:

Effect of low level contamination on TiAl alloys studied by SIMS

Beteiligte:

Teodoro, O. M. N. D. (Autor:in) / Barbosa, J. (Autor:in) / Naia, M. D. (Autor:in) / Moutinho, A. M. C. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 231/232 ; 854-858

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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