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    Titel:

    Atomic force microscopy of fatigue crack growth behavior in the low K region

    Beteiligte:

    Sugeta, A. (Autor:in) / Uematsu, Y. (Autor:in) / Hashimoto, A. (Autor:in) / Jono, M. (Autor:in)

    Erschienen in:

    INTERNATIONAL JOURNAL OF FATIGUE ; 26 ; 1159-1168

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2004

    Format / Umfang:

    10 pages

    ISSN:

    0142-1123

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.1126

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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