Measurement of Micro-Wave Dielectric Properties of SrTiO~3 Substrate Thin Plates Using Planar Electrodes: Fid-Bau Portal

Measurement of Micro-Wave Dielectric Properties of SrTiO~3 Substrate Thin Plates Using Planar Electrodes

Harigai, T. / Teranishi, T. / Nam, S.-M. / Kakemoto, H. / Wada, S. / Tsurumi, T.

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Titel:

Measurement of Micro-Wave Dielectric Properties of SrTiO~3 Substrate Thin Plates Using Planar Electrodes

Beteiligte:

Harigai, T. (Autor:in) / Teranishi, T. (Autor:in) / Nam, S.-M. (Autor:in) / Kakemoto, H. (Autor:in) / Wada, S. (Autor:in) / Tsurumi, T. (Autor:in) / Miyayama, M. / Takenaka, T. / Takata, M. / Shinozaki, K.

Erschienen in:

Electroceramics in Japan VII ; 215-218

KEY ENGINEERING MATERIALS

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

1013-9826

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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