Microstructure investigation of BaxSr1-xTiO3 thin film grown on porous silicon substrate: Fid-Bau Portal

Microstructure investigation of BaxSr1-xTiO3 thin film grown on porous silicon substrate

Liu, W. / Xing, S. / Lian, J. / Wang, L. / Song, Z. / Lin, C. / Xu, Z. K. / Chu, P. K.

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Titel:

Microstructure investigation of BaxSr1-xTiO3 thin film grown on porous silicon substrate

Beteiligte:

Liu, W. (Autor:in) / Xing, S. (Autor:in) / Lian, J. (Autor:in) / Wang, L. (Autor:in) / Song, Z. (Autor:in) / Lin, C. (Autor:in) / Xu, Z. K. (Autor:in) / Chu, P. K. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING ; 7 ; 253-258

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

1369-8001

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.38152

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