HRTEM observation of interface states between ZnO epitaxial film and Si(111) substrate: Fid-Bau Portal

HRTEM observation of interface states between ZnO epitaxial film and Si(111) substrate

Nakanishi, Y. / Miyake, A. / Tatsuoka, H. / Kominami, H. / Kuwabara, H. / Hatanaka, Y.

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Titel:

HRTEM observation of interface states between ZnO epitaxial film and Si(111) substrate

Beteiligte:

Nakanishi, Y. (Autor:in) / Miyake, A. (Autor:in) / Tatsuoka, H. (Autor:in) / Kominami, H. (Autor:in) / Kuwabara, H. (Autor:in) / Hatanaka, Y. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 244 ; 359-364

Erscheinungsdatum:

01.01.2005

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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