Infrared spectroscopy of pentacene thin film on SiO2 surface: Fid-Bau Portal

Infrared spectroscopy of pentacene thin film on SiO2 surface

Hosoi, Y. / Okamura, K. / Kimura, Y. / Ishii, H. / Niwano, M.

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Titel:

Infrared spectroscopy of pentacene thin film on SiO2 surface

Beteiligte:

Hosoi, Y. (Autor:in) / Okamura, K. (Autor:in) / Kimura, Y. (Autor:in) / Ishii, H. (Autor:in) / Niwano, M. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 244 ; 607-610

Erscheinungsdatum:

01.01.2005

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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