Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik
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Reliability Evaluation of Hinges Used in Electronic Communication Devices
Reliability Evaluation of Hinges Used in Electronic Communication Devices
Reliability Evaluation of Hinges Used in Electronic Communication Devices
Lee, T. H. (Autor:in) / Jhang, K. Y. (Autor:in) / Kim, Y.-J. / Bae, D.-H.
01.01.2005
6 pages
Aufsatz (Zeitschrift)
Englisch
DDC:
620.11
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