Strain profiling of fatigue crack overload effects using energy dispersive X-ray diffraction: Fid-Bau Portal

Strain profiling of fatigue crack overload effects using energy dispersive X-ray diffraction

Croft, M. / Zhong, Z. / Jisrawi, N. / Zakharchenko, I. / Holtz, R. L. / Skaritka, J. / Fast, T. / Sadananda, K. / Lakshmipathy, M. / Tsakalakos, T.

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Titel:

Strain profiling of fatigue crack overload effects using energy dispersive X-ray diffraction

Beteiligte:

Croft, M. (Autor:in) / Zhong, Z. (Autor:in) / Jisrawi, N. (Autor:in) / Zakharchenko, I. (Autor:in) / Holtz, R. L. (Autor:in) / Skaritka, J. (Autor:in) / Fast, T. (Autor:in) / Sadananda, K. (Autor:in) / Lakshmipathy, M. (Autor:in) / Tsakalakos, T. (Autor:in)

Erschienen in:

INTERNATIONAL JOURNAL OF FATIGUE ; 27 ; 1408-1419

Erscheinungsdatum:

01.01.2005

Format / Umfang:

12 pages

ISSN:

0142-1123

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.1126

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