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    Titel:

    RVE-based studies on the coupled effects of void size and void shape on yield behavior and void growth at micron scales

    Beteiligte:

    Li, Z. (Autor:in) / Steinmann, P. (Autor:in)

    Erschienen in:

    INTERNATIONAL JOURNAL OF PLASTICITY ; 22 ; 1195-1216

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2006

    Format / Umfang:

    22 pages

    ISSN:

    0749-6419

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11233

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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