Applied scanning probe methods II-IV: Fid-Bau Portal

Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

Applied scanning probe methods II-IV

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Applied scanning probe methods II-IV

Applied scanning probe methods II-IV

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

Applied scanning probe methods II-IV

Erschienen in:

MATERIALS TODAY -OXFORD THEN KIDLINGTON- ; 9 ; 57

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

57 pages

ISSN:

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Print

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

© Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

Ähnliche Titel

Applied Scanning Probe Methods

Bhushan, Bharat / Fuchs, Harald / Hosaka, Sumio | TIBKAT | 2004

Scanning Probe Microscopy : Analytical Methods

Wiesendanger, Roland | TIBKAT | 1998

Scanning Probe Microscopes

Jangchud, I. / Serrano, A. M. / Eby, R. K. et al. | British Library Online Contents | 1995

Scanning probe microscopy

British Library Online Contents | 2006

Scanning Probe Surface Modification

Corbitt, T. S. / Crooks, R. M. / Ross, C. B. et al. | British Library Online Contents | 1993