Ab initio comparative study of C54 and C49 TiSi2 surfaces: Fid-Bau Portal

Ab initio comparative study of C54 and C49 TiSi2 surfaces

Wang, T. / Oh, S. Y. / Lee, W. J. / Kim, Y. J. / Lee, H. D.

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Titel:

Ab initio comparative study of C54 and C49 TiSi2 surfaces

Beteiligte:

Wang, T. (Autor:in) / Oh, S. Y. (Autor:in) / Lee, W. J. (Autor:in) / Kim, Y. J. (Autor:in) / Lee, H. D. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 252 ; 4943-4950

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

8 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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