Nanostructural characterization of YBCO films on metal tape with textured buffer layer fabricated by pulsed-laser deposition: Fid-Bau Portal

Nanostructural characterization of YBCO films on metal tape with textured buffer layer fabricated by pulsed-laser deposition

Kato, T. / Sasaki, H. / Sasaki, Y. / Hirayama, T. / Ikuhara, Y. / Watanabe, T. / Ibi, A. / Iwai, H. / Muroga, T. / Miyata, S.

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Kato, T. / Sasaki, H. / Sasaki, Y. / Hirayama, T. / Ikuhara, Y. / Watanabe, T. / Ibi, A. / Iwai, H. / Muroga, T. / Miyata, S.

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Titel:

Nanostructural characterization of YBCO films on metal tape with textured buffer layer fabricated by pulsed-laser deposition

Beteiligte:

Kato, T. (Autor:in) / Sasaki, H. (Autor:in) / Sasaki, Y. (Autor:in) / Hirayama, T. (Autor:in) / Ikuhara, Y. (Autor:in) / Watanabe, T. (Autor:in) / Ibi, A. (Autor:in) / Iwai, H. (Autor:in) / Muroga, T. (Autor:in) / Miyata, S. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE ; 41 ; 2587-2595

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

9 pages

ISSN:

0022-2461

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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