Secondary ionization mass spectrometric analysis of impurity element isotope ratios in nuclear reactor materials: Fid-Bau Portal

Secondary ionization mass spectrometric analysis of impurity element isotope ratios in nuclear reactor materials

Gerlach, D. C. / Cliff, J. B. / Hurley, D. E. / Reid, B. D. / Little, W. W. / Meriwether, G. H. / Wickham, A. J. / Simmons, T. A.

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Titel:

Secondary ionization mass spectrometric analysis of impurity element isotope ratios in nuclear reactor materials

Beteiligte:

Gerlach, D. C. (Autor:in) / Cliff, J. B. (Autor:in) / Hurley, D. E. (Autor:in) / Reid, B. D. (Autor:in) / Little, W. W. (Autor:in) / Meriwether, G. H. (Autor:in) / Wickham, A. J. (Autor:in) / Simmons, T. A. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 252 ; 7041-7044

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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