In situ transmission electron microscopy study of the nucleation and grain growth of Ge2Sb2Te5 thin films: Fid-Bau Portal

In situ transmission electron microscopy study of the nucleation and grain growth of Ge2Sb2Te5 thin films

Park, Y. J. / Lee, J. Y. / Kim, Y. T.

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Titel:

In situ transmission electron microscopy study of the nucleation and grain growth of Ge2Sb2Te5 thin films

Beteiligte:

Park, Y. J. (Autor:in) / Lee, J. Y. (Autor:in) / Kim, Y. T. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 252 ; 8102-8106

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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