Inter- and Intragranular Stress Determination with Kossel Microdiffraction in a Scanning Electron Microscope: Fid-Bau Portal

Inter- and Intragranular Stress Determination with Kossel Microdiffraction in a Scanning Electron Microscope

Pesci, R. / Inal, K. / Berveiller, S. / Patoor, E. / Lecomte, J. S. / Eberhardt, A.

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Titel:

Inter- and Intragranular Stress Determination with Kossel Microdiffraction in a Scanning Electron Microscope

Beteiligte:

Pesci, R. (Autor:in) / Inal, K. (Autor:in) / Berveiller, S. (Autor:in) / Patoor, E. (Autor:in) / Lecomte, J. S. (Autor:in) / Eberhardt, A. (Autor:in) / Reimers, W. / Quander, S.

Erschienen in:

Residual Stresses VII: ECRS 7 - Proceedings of the 7^t^h European Conference on Residual Stresses Berlin, Germany, 13-15 September 2006 ; 109-114

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 524/525

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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