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Oxford HEXameter: Laboratory High Energy X-Ray Diffractometer for Bulk Residual Stress Analysis

Korsunsky, A. M. / Zhang, S. Y. / Dini, D. / Vorster, W. J. J. / Liu, J.

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Titel:

Oxford HEXameter: Laboratory High Energy X-Ray Diffractometer for Bulk Residual Stress Analysis

Beteiligte:

Korsunsky, A. M. (Autor:in) / Zhang, S. Y. (Autor:in) / Dini, D. (Autor:in) / Vorster, W. J. J. (Autor:in) / Liu, J. (Autor:in) / Reimers, W. / Quander, S.

Erschienen in:

Residual Stresses VII: ECRS 7 - Proceedings of the 7^t^h European Conference on Residual Stresses Berlin, Germany, 13-15 September 2006 ; 743-748

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 524/525

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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