Effects of thickness and post deposition annealing on the properties of evaporated In2S3 thin films: Fid-Bau Portal

Effects of thickness and post deposition annealing on the properties of evaporated In2S3 thin films

Kumar, P. M. / John, T. T. / Kartha, C. S. / Vijayakumar, K. P. / Abe, T. / Kashiwaba, Y.

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Titel:

Effects of thickness and post deposition annealing on the properties of evaporated In2S3 thin films

Beteiligte:

Kumar, P. M. (Autor:in) / John, T. T. (Autor:in) / Kartha, C. S. (Autor:in) / Vijayakumar, K. P. (Autor:in) / Abe, T. (Autor:in) / Kashiwaba, Y. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE ; 41 ; 5519-5525

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0022-2461

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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