Wavelet Based Multi-Bit Fingerprinting Against Geometric Distortions: Fid-Bau Portal

Wavelet Based Multi-Bit Fingerprinting Against Geometric Distortions

Kim, W. G. / Seo, Y. S. / Jung, H. W. / Lee, S. H. / Oh, W. G.

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Titel:

Wavelet Based Multi-Bit Fingerprinting Against Geometric Distortions

Beteiligte:

Kim, W. G. (Autor:in) / Seo, Y. S. (Autor:in) / Jung, H. W. (Autor:in) / Lee, S. H. (Autor:in) / Oh, W. G. (Autor:in) / Lee, S.-S. / Lee, J. H. / Park, I. K. / Song, S.-J. / Choi, M. Y.

Erschienen in:

Advanced Nondestructive Evaluation I ; 1301-1305

KEY ENGINEERING MATERIALS ; 321/323

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

1013-9826

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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