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    Dokumentinformationen
    Titel:

    Analysis of defect configurations with positron lifetime measurements by pulsed low energy beams

    Beteiligte:

    Egger, W. (Autor:in) / Kogel, G. (Autor:in) / Sperr, P. (Autor:in) / Gudladt, H.-J. (Autor:in)

    Erschienen in:

    INTERNATIONAL JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH ; 97 ; 1633-1641

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2006

    Format / Umfang:

    9 pages

    ISSN:

    1862-5282

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  669.9

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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