A high-resolution transmission electron microscopy study of defects in gamma-Al~2O~3 nanorods: Fid-Bau Portal

A high-resolution transmission electron microscopy study of defects in gamma-Al~2O~3 nanorods

Li, W. F. / Ma, X. L. / Li, Y. / Zhang, W. S. / Zhang, Z. D.

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Titel:

A high-resolution transmission electron microscopy study of defects in gamma-Al~2O~3 nanorods

Beteiligte:

Li, W. F. (Autor:in) / Ma, X. L. (Autor:in) / Li, Y. (Autor:in) / Zhang, W. S. (Autor:in) / Zhang, Z. D. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH THEN WARRENDALE- ; 22 ; 595-602

Erscheinungsdatum:

01.01.2007

Format / Umfang:

8 pages

ISSN:

0884-2914

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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