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Charged point defects in semiconductors

Seebauer, E. G. / Kratzer, M. C.

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Titel:

Charged point defects in semiconductors

Beteiligte:

Seebauer, E. G. (Autor:in) / Kratzer, M. C. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING R REPORTS -LAUSANNE- ; 55 ; 57-149

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

93 pages

ISSN:

0927-796X

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.1 / 530

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