Degradation Aging of BaTiO~3 Microwave Ceramic Capacitors for EMI Applications at High-Voltage: Fid-Bau Portal

Degradation Aging of BaTiO~3 Microwave Ceramic Capacitors for EMI Applications at High-Voltage

Xiong, Z. X. / Su, Z. G. / Qiu, H.

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Titel:

Degradation Aging of BaTiO~3 Microwave Ceramic Capacitors for EMI Applications at High-Voltage

Beteiligte:

Xiong, Z. X. (Autor:in) / Su, Z. G. (Autor:in) / Qiu, H. (Autor:in) / Pan, W. / Gong, J.

Erschienen in:

Proceedings of the Fourth China International Conference on High-Performance Ceramics (CICC-4) (Incorporating the Second International Workshop on Layered and Graded Materials and the First Satellite Symposium on Thermoelectrics) Chengdu, China, October 23 ∼ 26, 2005 ; 371-373

KEY ENGINEERING MATERIALS ; 336/338

Erscheinungsdatum:

01.01.2007

Format / Umfang:

3 pages

ISSN:

1013-9826

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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