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    Titel:

    Fatigue Damage Mechanism of Nanocrystals in ECAP-Processed Copper Investigated by EBSD and AFM Hybrid Methods

    Beteiligte:

    Kimura, H. (Autor:in) / Kojima, Y. (Autor:in) / Akiniwa, Y. (Autor:in) / Tanaka, K. (Autor:in) / Ishida, T. (Autor:in)

    Erschienen in:

    KEY ENGINEERING MATERIALS ; 340/341 ; 943-948

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2007

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    1013-9826

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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